汽車（chē）電子e-Mark測試介紹之（zhī）大電流注入法實驗

根（gēn）據不同的車廠、國家的要求，針對汽車電子產品的窄帶電磁輻射幹擾測試的差異性是很大的，主要集（jí）中在測試頻段、幹（gàn）擾（rǎo）強度以及天線的切換頻（pín）率等等。本文主要根據ISO 11452-4來介（jiè）紹大電流注入法（BCI）測（cè）試的（de）基本條件以及一下要求。

標準名稱

    ISO 11452-2: Road vehicles — Component test methods for electrical disturbances from narrowband radiated electromagnetic energy — Part 4: Bulk current injection (BCI)

測試目的

    該測（cè）試（shì）目的是檢（jiǎn）驗設備對【1MHz – 400MHz】頻帶的（de）抗幹（gàn）擾性能。

測試條件

 測試溫度：(23 ± 5) °C.

 電源電壓：(13.5 ± 0.5) V for 12 V; (27 ± 1) V for 24 V

 調製：
        a). 未（wèi）調製正弦波信（xìn）號（可（kě）使用範圍：0.01 MHz to 18 GHz，校準時采用（yòng））

        b). 1KHz, 80%調製（zhì）的AM（振幅調製）信（xìn）號（可使（shǐ）用範圍：0.01 MHz to 800MHz，測試時采用（yòng））

    滯（zhì）留時間（jiān）（Dwell time）：不小於1s

    頻率步長：

    測試嚴酷等級：

測試場地：

    測試應該在一個屏蔽室裏完成

測試設備要求

    大電流注入探頭，該探頭工作頻率要能滿足測試範圍，能持續的經受整個測試頻率範圍（wéi）內的輸入功率。

 大電流校準探頭（tóu），該（gāi）探頭工作頻率要能滿足測試（shì）範圍。

 AN（仿真網絡）

 信號發生器，擁有（yǒu）內部（或者外部）的調製能力

 功（gōng）率放大器（qì）

 功率（lǜ）計（或者等同設備），測試正向傳輸功率和反射功率

 電（diàn）流測量設備

測試設置（替代法）

 接（jiē）地（dì）板：材料為0.5mm（最小）後的銅，黃銅或者鍍鋅鋼材；尺寸最（zuì）小為1000mm寬，1500mm長或者超出被測物200mm；接地材料的阻抗應不大（dà）於2.5豪歐，間隔應不（bú）大與300mm。

 電（diàn）源和AN：對（duì）於（yú）遠端接地應用兩（liǎng）個AN，對於（yú）近端接地可（kě）以隻用一個AN（接於正極（jí））。

 EUT擺放：EUT應置於絕（jué）緣，低（dī）介電常數（不大於1.4）且厚度為50(±5)mm的材料（liào）上。

 測試線（xiàn）束，EUT和模擬負載的線束總長應為1000(±100)mm，測試線束應置於（yú）絕緣，低介電常數（不大於1.4）且厚（hòu）度為50(±5)mm的材料上。

 大電流探頭：注入探頭所在位置距EUT的距（jù）離d如（rú）下(替代法)：

        d = (150 ± 10) mm

        d = (450 ± 10) mm

        d = (750 ± 10) mm

測試結（jié）果性能判據（jù）

    Class A: EUT功能或性（xìng）能一直保持正常，無任何異（yì）常現象

    Class B: 所有功能或性能在幹擾（rǎo）狀態下（xià），一個或（huò）者多個功能或者性能偏（piān）移指（）定的容差，但所有功能或（huò）性能在幹擾移除以（yǐ）後能恢複到規定的容差限（xiàn）值以內。並且存儲數據不能有任何異常（cháng）現象

    Class C: 一個或者多（duō）個（gè）功能（néng）或性能暫喪失，但（dàn）在施加幹擾之後EUT能自動恢（huī）複到正常模式

    Class D: 一（yī）個或者多個功（gōng）能或性（xìng）能暫喪失，但在施加幹擾（rǎo）之後通過人為的幹預能（néng）自動恢複（fù）到正常模式（shì）

    Class E: 一個（gè）或者多個功能或（huò）性能暫（zàn）喪失，並且不能自動恢複到正常模式