ESD靜電放電產生的（de）原理和危害

隨著電子技（jì）術（shù）和集成電路的發展，電子設備越來越小、多功能、智能化。然而，高集成電路元件可能（néng）會因靜電場和靜電放電（ESD）而失效，導致（zhì）電子（zǐ）設備鎖定、複位、數據丟（diū）失，影響設備的正常運行，降低設備的可靠性，造成（chéng）損壞。因此（cǐ），研究電子設備造成的ESD原理和危害，避免ESD的發生具有重要意義。

ESD靜電放電的原理：

ESD(Electro-Staticdischarge)是靜電放電

1.當兩個物體處（chù）於不（bú）同的電位時，它（tā）們（men）之間的（de）直接接觸傳輸。

2.兩個物體之間產（chǎn）生的靜（jìng）電場。

靜電的主要來源大多是絕緣體和典型的合成材料（liào），如乙烯樹脂、塑料工作平台、絕緣鞋、成型木椅、透明膠（jiāo）帶、氣泡袋（dài）和非（fēi）直接接地焊（hàn）錫烙鐵。這些來源產生（shēng）的（de）電位非常（cháng）高（gāo），因為它們的電荷不容易分布（bù）在物體（tǐ）表麵或傳輸（shū）給其他物體（tǐ）。當兩個物體相（xiàng）互摩擦時，靜電（diàn）被稱為摩擦效應。

ESD靜電放電（diàn）的危（wēi）害：

ESD損壞IC是由高壓和峰值電流引起的。精（jīng）密模擬電路（lù）通常具有極低（dī）的偏（piān）置電流，比普通數字電路更容易損壞，因為傳（chuán）統的ESD保（bǎo）護輸入保護（hù）結構會增加輸入泄漏（lòu），因此不能使用。程師來說，ESD損壞最常見的表現是IC故障。然而，暴（bào）露（lù）在ESD下也可能導致泄漏增加或其他參數下降。如果（guǒ）一個設備在（zài）評估過程中似乎達不到數據（jù）手冊中的規格指標，則（zé）應考（kǎo）慮ESD損壞的可能性。

ESD損壞可能會產生累（lèi）積效應，因此，如果設（shè）備（bèi）重複操作不當（dāng），結果可能會導致故障。在測試插座上插入和（hé）移除IC時，在評估期間存儲設備，並在測試板上添（tiān）加或移除外部元件時，應采取適當的ESD預防措施。同樣，如果設備在原型係統開發過程中出現故障，原因可能是反複的ESD應力。

ESD靜電放電會對電路造成不可彌補的損（sǔn）壞，因此在電路中添加ESD保護裝置是一種有（yǒu）效的預防方法。