如（rú）何做好EFT/ESD問題的測量和定位

在進行標準（zhǔn）的eft/esd測試時，把幹擾脈衝從（cóng）設備外部耦合（hé）到內部，同時監視設備的工（gōng）作狀態。如果設備沒有通過這些標準的測試，測試本身（shēn）幾乎（hū）不能提（tí）供任何如何解決問（wèn）題的信息。 怎樣做好eft/ esd問題的測量和定位，並且要想定位被測物(eut)對突發幹擾敏感的原因和位置（zhì），必須進行信號測（cè）量。但是如果采用示（shì）波器進行測量的話，eut內部（bù）的幹擾會產生變化。例如圖1中，使用金屬導線的探頭（tóu）連接到示波器，會形成一個額外的（de）幹擾電流路徑，從而（ér）影響測試結果，很難定位產生esd/eft問題的原因。

圖（tú）1 用示波器測量eft/esd 怎樣做好（hǎo）eft/ esd問題的測量和定位，我們先要了解eft/esd幹擾電路（lù）正常工作的機理。 在進行eft/esd等抗擾度測試時，需要把相（xiàng）應的突發幹擾施（shī）加到eut的電源線，信號線或者機箱等位置。幹擾電流會通過（guò）電纜或者機箱，流入eut的內部電路，可能會引起eut技術指標的下（xià）降（jiàng），例如幹擾音頻或視頻信號，或者引起通信誤（wù）碼等；也可能引起係統複位，停止工作，甚至損壞器件等。 電子產品的抗幹擾（rǎo）特性，取決於其pcb設計和集成電路的敏（mǐn）感度。電路對eft/esd信號敏感的位置，一般能被很好的定位。形成（chéng）這些"敏感點"的原因，很大程度上取決於gnd/vcc的形狀以（yǐ）及集成電路的類（lèi）型和製造商。 實踐發現，怎樣做好eft/ esd問題的測量和定位，產生eft/esd問題（tí）的主要的原因是，幹擾電流的主要部分會流（liú）入低阻抗的電源係統。幹擾電（diàn）流能通過直接的連接進入gnd係統，再（zài）由線路連接，從另外一個地方耦合出來；幹擾電流也能通過直接連接進入gnd係統，然後（hòu）通過和金屬（shǔ）塊(例如機箱)等物體的容性（xìng）耦合方式，以電場的（de）方式(場束)耦（ǒu）合（hé）出來。

圖2中，幹擾脈（mò）衝電流i通過電纜或者電容滲透到pcb內。由幹擾電流產生電場幹擾(電場強度e)或者磁場幹擾(磁場強度（dù）b)。磁脈衝場b或電脈衝場e是影響pcb主要的基本元素，一般來說，敏感（gǎn）點要麽僅對磁場敏感，要麽僅對電場敏感。 幹擾電流i通過電源線注入到設備內部。由於旁路電容c的存在，一部分電流ia離開了被（bèi）測物，內部的（de）幹（gàn）擾電（diàn）流ii被減少了。圖中所示的由幹擾電流ii產生的磁場b會影響它周圍幾厘米範圍內的電路模（mó）塊，一般電路模塊（kuài）內隻會有（yǒu）很少的（de）信號線會對磁場b敏感。 需要注意，磁場不僅僅由電源線電纜上幹擾電流i以及排狀電纜（lǎn）上的電流產生，旁路電容c的電流路徑以及內部gnd和vcc上的電流，會擴大幹擾範圍。 在電源係統(主要是gnd)上流動的幹擾電（diàn）流，產生的很強的寬頻（pín）譜電磁場，能幹擾其周圍（wéi）幾（jǐ）厘米（mǐ）範圍內的集成電路或者（zhě）信號線，如果（guǒ）敏感的信號線或者器件，例（lì）如複位信（xìn）號（hào）、片選信號、晶體等，正好（hǎo）放置（zhì）在幹（gàn）擾電流路徑周圍，係統就可能由此引起各種不穩定的現象。 一般情況下，一塊pcb上隻會存在少量的敏感點，而且每個敏感點也會被限製在很少的區域。在把這些敏感點找出來，並采取適當的手段（duàn）後，就能提高產品（pǐn）的抗幹擾性能。 由此可見（jiàn），怎樣做好eft/esd問題的測量和定位，為了定位eut不能通過eft/esd測試的原因，我們（men）就必須首先找（zhǎo）出（chū）這些突發幹擾在係統內部的電流路徑，再找出該路徑周圍存在哪些敏感的信號線和器（qì）件(敏感點)，之後可以采取改善接地係統以（yǐ）改變電流路徑，或者移動敏（mǐn）感信號線和器件的位（wèi）置等方法，從根本上以低的成本解決eft/esd問（wèn）題。