手機電磁兼容（róng）測試:ESD靜電放電問題（tí）盤點

靜電放（fàng）電（ESD）的破壞（huài）作用具有隱蔽性、潛（qián）在性、隨機性和複雜性的特點。來自Intel的資料表明，在引起電子器件（jiàn）故障（zhàng）的諸多因素中，ESD是最（zuì）大（dà）的隱患。所以，模擬靜（jìng）電放電的（de）測試在世界範（fàn）圍內得到（dào）廣泛關注。

手機靜電（diàn）放（fàng）電失效（xiào）的具體表現

1. 手機通話中斷。
2. 手機部分功能失效，但試驗結束後或重新啟動手機，可以恢（huī）複正常。具體表現為：屏幕顯示異常（cháng），如白屏、條紋、亂碼、模糊等；通話異常（cháng），如嘯叫聲或聲音時（shí）斷時續；按鍵（觸摸屏）功能異（yì）常；軟件誤（wù）報（bào）警，例如並未進（jìn）行充電器插（chā）拔，卻頻繁提示“充電已連接、充電器已移除"。
3. 手機自動關機或重新啟動。可能發生（shēng）在通話狀態或待機狀態。
4. 手機失效或損壞。如攝像頭等部分器件損壞（huài）；手機（jī）與充電器相連進行測試時，充電器也可能出現失效、損壞甚至爆炸等問題。

手機靜電放電失效的具體（tǐ）分析

手機靜（jìng）電放電失（shī）效的（de）改進建議

盡量選擇靜電敏感（gǎn）度等級高的器件。器件與靜電源隔（gé）離，減少回（huí）路麵積(麵積越大，所包（bāo）含的場流量（liàng）越大，其感應電流越大（dà）)。具體的措施可（kě）能（néng）包括（kuò）：走線越短越好；電源與地（dì）越接（jiē）近（jìn）越好（hǎo）；存在多組（zǔ）電源和地（dì）時，以格子方式連接（jiē）；太長的信號線或電源（yuán）線宜（yí）與地線交錯布（bù）置；信號（hào）線越靠近地線越好；同一（yī）特（tè）性器件越近越好；盡量（liàng）在PCB上使用完整的地平麵，PCB接地麵積越大越好，不要有大的缺口，PCB的接地線要（yào）低阻抗（kàng）；電源、地布局在板中間比在四周好；在電源和地（dì）之間放置高頻旁路（lù）電容；保護靜電敏感的元器件。